Turner集团正在使用干涉法测量AFM探头上的偏转。该仪器用于研究用于MEMS应用的纳米材料的粘附性和表面性能。尽管将该仪器放置在一个空气隔离台上,其测量值仍受到环境振动的影响。噪声源包括层流罩,附近建筑,以及实验室的位置(位于大楼的二楼)。在实验室中对TS-150主动除振台进行了测试评估。TS-150有效地消除了令人烦恼的振动,并使研究人员能够继续进行纳米级测量。
应用
·微机电系统(MEMS)
仪器
·使用干涉仪测量定制的AFM探针系统
最终用户
·Turner研究小组,威斯康星大学麦迪逊分校工程学院
隔振系统:
·TS-150主动除振台
结果 - 比较视频
以下视频描述了悬浮在空中的AFM探头。条纹的运动表示影响到探头的环境噪声。在没有隔振装置、空气隔离装置和主动隔振装置的情况下,拍摄探头运动的视频,进行对比。
致谢
特纳集团前职员John Nguyen,目前就职于桑迪亚国家实验室 ; 美国威斯康星大学麦迪逊分校机械工程系的Kevin Turner教授