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TS150-主动除振台-在原子力显微镜(AFM)中的应用

TS150-主动除振台-在原子力显微镜(AFM)中的应用

Turner集团正在使用干涉法测量AFM探头上的偏转。该仪器用于研究用于MEMS应用的纳米材料的粘附性和表面性能。尽管将该仪器放置在一个空气隔离台上,其测量值仍受到环境振动的影响。噪声源包括层流罩,附近建筑,以及实验室的位置(位于大楼的二楼)。在实验室中对TS-150主动除振台进行了测试评估。TS-150有效地消除了令人烦恼的振动,并使研究人员能够继续进行纳米级测量。



应用

·微机电系统(MEMS)

仪器

·使用干涉仪测量定制的AFM探针系统

最终用户

·Turner研究小组威斯康星大学麦迪逊分校工程学院

隔振系统:

·TS-150主动除振台


结果 - 比较视频

以下视频描述了悬浮在空中的AFM探头。条纹的运动表示影响到探头的环境噪声。在没有隔振装置、空气隔离装置和主动隔振装置的情况下,拍摄探头运动的视频,进行对比。

  

致谢

特纳集团前职员John Nguyen,目前就职于桑迪亚国家实验室美国威斯康星大学麦迪逊分校机械工程系Kevin Turner教授