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TS系列主动减振台在微纳测试中的应用

TS系列主动减振台在微纳测试中的应用

Herzan服务于全球各地的研究人员,Herzan环境控制解决方案主要用于消除测量中破坏性环境噪声。通过以下最新产品应用实例,了解各个研究领域的客户如何解决显微镜中棘手的噪音问题。


1.表面粗糙度测量+ TS系列


美国Essilor 的研究人员观察到大量振动噪声限制了其Keyence VK-X250 3D激光扫描共聚焦显微镜的性能。所产生的振动噪声影响了表面粗糙度的测量,从而导致结果不准确。


为了解决这些问题,Essilor与Herzan合作,TS-140与Keyence VK-X250共焦显微镜集成在一起,显着降低测量中由于振动引起的噪声,从而更准确地测量各种表面粗糙度参数,例如算术平均高度(Ra)和均方根高度(Rq)。

2.3D纳米制造+ TS系列


德克萨斯大学达拉斯分校的纳米生物实验室发现,其3D纳米制造仪器的光学平台无法隔离振动噪声。为此,他们选择TS-150隔振台作为解决方案,帮助消除微量移液器不稳所产生的低频振动噪声。

上图显示了使用标准微量移液器和搭配TS-150的微量移液器对纳米线的沉积情况。 使用TS-150隔振台可提高稳定性,降低了先前影响仪器的振动。

3.电生理学+ TS系列


明尼苏达大学的Paloma Bellido想要了解豆娘运动前目标跟踪系统中的双目编码,于是与Herzan合作,采用TS-150消除了电生理测试装置所产生的振动噪声。最终,测试装置帮助研究人员成功记录了豆娘神经元的细胞内记录。